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GB/T2423.1-2008A2009年10月1日開始實施，替代原替代GB/T 2423.1-2001標(biāo)準(zhǔn)所使用。GB/T2423.1-2008A規(guī)定的低溫試驗適用非散熱和散熱試驗樣品。
GB/T2423.1-2008A代替GB/T 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》，與之相比，主要變化如下：
——刪除了試驗Aa：非散熱試驗樣品溫度突變的低溫試驗;
——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E;
——增加了試驗Ae：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗——試驗樣品在整個試驗過程通電。
范圍
GB/T 2423的本部分規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備。
本低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
本低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T 2423.22。
本低溫試驗方法細(xì)分為以下幾種：
——非散熱試驗樣品低溫試驗：
●試驗Ab，溫度漸變。
——散熱試驗樣品低溫試驗：
●試驗Ad，溫度漸變;
●試驗Ae，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。
本部分給出的試驗方法通常用于試驗期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。
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